通知公告

当前位置: 首页 > 通知公告 > 正文

奥林巴斯3D测量激光显微镜OLS4100技术交流会

时间:2014-05-08 17:20

各位老师及研究生同学:
      
      欢迎参加奥林巴斯3D 测量激光显微镜- OLS4100展示交流会。
      展会时间:2014年5月13日—2014年5月15日。
      展会地点:西安电子科技大学老校区西大楼一楼:宽带隙半导体技术重点学科实验室。
      联系人:冯胜鹏   电话:18392954730。
     
      奥林巴斯3D 测量激光显微镜- OLS4100的优势:
  1.具有激光共焦扫描成像、高分辨率、3D成像及测量、高度集成及易用性等优异功能。
  2.平面分辨率达到0.12 μm, 可以进行精确的亚微米测量;
  3.在Z方向上达到了10 nm的高度分辨率;
  4.可以用于样品表面形貌观察、平面及3D测量,粒度及粗糙度测量等多个方面。