（通讯员 雷毅敏） 2015年12月17日，悉尼大学刘宗文副教授受邀访问环球360娱乐官网，并在西安电子科技大学南校区G楼118报告厅作了题为“3D Imaging: From Microscale to Atomic Resolution”的精彩学术报告。环球360娱乐官网师生到场聆听，马晓华教授主持报告会。

       报告会上，刘宗文副教授首先介绍了悉尼大学和澳大利亚国家电镜中心（Australia Center for Microanalysis & Microscopes，ACMM）的基本情况，同时也着重介绍了他的工作研究情况，并欢迎本院师生到悉尼大学访学。接着，他详细介绍了ACMM的主要研究设备、技术方法及工作原理，包括X射线层析成像（X-ray tomography）、Micro CT、Nano CT、 3 view（基于扫描电镜）、电子断层成像技术（Electron tomography，基于透射电镜）、原子探针层析技术（Atom probe tomography，APT）。从测量样品的条件、测量样品的制备、成像原理、仪器成像过程等方面给大家做了详细的阐述，并通过多组图片生动的展示了三维成像效果。通过这种技术可直观明了的观测到样品内部构造，可适用于生物样品、纳米催化剂材料等研究等领域，具有重要的意义。
      就透射电子显微镜以及扫描电子显微镜不能解决的问题，如更高精度的超微量元素的定量分析以及空间分布的分析，刘宗文重点介绍了APT的三维成像技术。APT是目前在纳米尺度上进行化学成分分析的分析精度与空间分辨率最高的一种分析技术，这种分析功能是其它任何分析设备无法比拟的。其工作原理是给针尖形状的样品加上一个基本高电压并辅以电脉冲或激光脉冲使得样品中的原子逐个被场离化。离化后的离子进入飞行时间质谱仪到达具有二维位置分辨功能的探测器上并记录飞行时间，到达时间以及二维位置。通过计算机模拟技术得到组成样品的各种元素原子在空间的分布图，从而进一步进行各种定量分析。对于了解纳米尺度成分的变化，例如不同元素在晶界、相界或晶体缺陷处的偏聚，以及原子团簇的形成等问题，这是一种非常重要的手段。如今最大分析尺寸在横向上可以达到250nm。与具有最高图像分辨率的TEM形成良好的技术互补。
      报告结束后，刘宗文与在座师生就材料分析表征的相关问题进行了热烈的交流和讨论，并针对师生提出的问题给予了详细的解答，他也希望和欢迎材料学院的师生来悉尼大学参观访问，并开展交流和学习。
 
人物简介：
      刘宗文，澳大利亚悉尼大学化学与生物分子工程学院副教授，博士生导师，伊丽莎白女王二世奖励计划学者。1999年在墨尔本大学获得博士学位，专业为电子显微学。1999年-2001年在澳大利亚昆士兰大学从事博士后研究工作，2001至2004年在日本材料研究所（NIMS）任高级研究员（Senior Researcher）。2004年起在悉尼大学任教。刘宗文老师的主要研究方向是显微分析技术在纳米材料、金属和陶瓷领域的合成与应用等，目前已经在Prog. Polym. Sci, Adv. Mater, JACS, Angew. Chem. Int等国际期刊上发表论文150余篇，论文总引用次数3000余次。